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總部位於舊金山的新創公司Niovia開發出一套AI軟體，可偵測電池與半導體生產線上的缺陷，並協助分析成因。該公司希望透過蒐集和分析生產數據，將找出缺陷原因所需的時間從數天縮短至數分鐘。
TechCrunch報導，Niovia的AI代理程式在直接安裝於製造設備的獨立GPU上運作，能找出針孔大小的瑕疵。工程師可查看集中彙整的生產數據，並透過聊天機器人詢問問題成因。
電池與半導體製程出現缺陷時，工廠可能必須停產並調查原因。TechCrunch指出，釐清成因可能耗時數天以上，而缺陷或失誤造成的成本有時高達數百萬美元。
Niovia共同創辦人Gaurav Jha談到電池與半導體製造時表示：「這是非常冷門的領域，但它在看不見的地方推動著一切。」他也說，電池與半導體製程同樣應用於眼鏡、鞋子、錢包和耳機等多種產品。
Niovia的AI代理程式以開源模型為基礎。公司運用電池與半導體研究資料等進一步訓練模型。Jha表示，客戶不希望把專有數據傳送至公開AI雲端。
客戶也可以自行持有加密金鑰，讓Niovia無法解密客戶數據。
目前Niovia聚焦於薄膜塗佈、電鍍和流化床反應三個領域。Jha表示，公司的長期目標是進一步自動化客戶工廠的營運，並打造全自動化工廠。
Niovia將於10月13日至15日在舊金山舉行的TechCrunch Disrupt活動中，參加Startup Battlefield決賽。
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